液晶検査装置
| 特徴 | 環境 / DB | 開発言語 |
|---|---|---|
| ・XYテーブル制御 ・ローダーアンローダーのロボット制御 ・画像解析処理 ・レシピ作成機能 ・自動運転プログラム作成機能 ・自動運転機能 ・カメラレンズ制御 |
・Windows NT ・Windows XP |
・C++ ・ラダー |
液晶製造装置
| 特徴 | 環境 / DB | 開発言語 |
|---|---|---|
| ・ローダーからアンローダーまでの動作制御 ・温度管理処理 ・圧力管理処理 ・真空引き管理処理 |
・Windows XP | ・Visual Basic ・ラダー |
半導体製造装置
| 特徴 | 環境 / DB | 開発言語 |
|---|---|---|
| ・ローダーからアンローダーまでの動作制御 ・温度管理処理 ・プレス処理 ・ハンディターミナル制御 ・ロット管理 |
・Windows NT | ・ラダー |
半導体検査装置
| 特徴 | 環境 / DB | 開発言語 |
|---|---|---|
| ・XYテーブル制御 ・ローダーアンローダーのロボット制御 ・画像解析処理 ・レシピ作成機能 ・カメラレンズ制御 ・マークチェック機能 ・形状チェック機能 |
・Windows XP ・Windows VIST |
・C++ ・ラダー |
携帯電話
| 特徴 | 環境 / DB | 開発言語 |
|---|---|---|
| ・GUIの開発・保守 ・グループ発信機能 ・無線機能 |
・Windows XP ・Windows VISTA ・μITRON |
・C++ ・C |
カーナビゲーションシステム
| 特徴 | 環境 / DB | 開発言語 |
|---|---|---|
| ・地図情報の経路検索 ・音声案内機能 ・オーディオの自動音量調節処理 |
・Windows XP | ・C ・ASM (M32C) |
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